A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Leakage Current and Floating Gate Capacitor Matching Test Teste de correspondência de capacitor de corrente de fuga e porta flutuante

Weidong TIAN, Joe R. TROGOLO, Bob TODD

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Resumo:

A incompatibilidade de capacitores é um parâmetro importante do dispositivo para aplicações analógicas de precisão. Nos últimos dez anos, a técnica de medição de comporta flutuante tem sido amplamente utilizada para sua caracterização. Neste artigo descrevemos o impacto da corrente de fuga na técnica. O vazamento pode vir, por exemplo, de MOSFETs de óxido de porta fina ou de capacitores de alta constante dielétrica em tecnologias avançadas. Simulação SPICE, medição de bancada, modelo analítico e análises numéricas são apresentadas para ilustrar o problema e os principais fatores contribuintes. Critérios para caracterização precisa de incompatibilidade sistemática e aleatória de capacitores são desenvolvidos, e métodos práticos para aumentar a precisão da medição são discutidos.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E91-C No.8 pp.1315-1320
Data de publicação
2008/08/01
Publicitada
ISSN online
1745-1353
DOI
10.1093/ietele/e91-c.8.1315
Tipo de Manuscrito
Special Section INVITED PAPER (Special Section on Microelectronic Test Structures (ICMTS2007))
Categoria

autores

Palavra-chave