A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Local Area Characterization of TTF-TCNQ Evaporated Films by Scanning Probe Microscope Caracterização de área local de filmes evaporados TTF-TCNQ por microscópio de sonda de varredura

Kazuhiro KUDO, Masaaki IIZUKA, Shigekazu KUNIYOSHI, Kuniaki TANAKA

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Resumo:

Desenvolvemos um novo tipo de sistema de sondagem elétrica baseado em um microscópio de força atômica. Este método permite medir simultaneamente a topografia superficial e o potencial superficial de filmes finos contendo grãos de cristal. As mudanças potenciais locais obtidas fornecem uma visão sobre a condução através dos grãos e seus limites.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E83-C No.7 pp.1069-1070
Data de publicação
2000/07/25
Publicitada
ISSN online
DOI
Tipo de Manuscrito
Special Section LETTER (Special Issue on Organic Molecular Electronics for the 21st Century)
Categoria
Filme Ultra Fino

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