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Microstructure Analysis of Annealing Effect on CoCrPt Thin Film Media by XRD Análise microestrutural do efeito de recozimento em mídia de filme fino CoCrPt por XRD

Ding JIN, Ying SU, Jian Ping WANG, Hao GONG

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Resumo:

O tratamento pós-recozimento para filmes finos magnéticos de CoCrPt foi testado em diferentes condições térmicas, alterando o tempo do procedimento de recozimento. Coercividade (Hc) a melhoria foi alcançada na amostra recozida em comparação com aquelas depositadas, nas quais foram alcançados até 5.2 kOe. Para esclarecer o mecanismo de tratamento de recozimento nas propriedades magnéticas, os espectros de difração de raios X (XRD) dessas amostras e suas propriedades magnéticas foram cuidadosamente estudados. Os parâmetros da rede Co e Cr foram calculados separadamente a partir de diferentes planos da rede cristalina. Verificou-se que o espaçamento da rede do eixo da estrutura hexagonal Co aumenta monotonicamente com o aumento do tempo de recozimento. Variação de Co profissional de saúde A significância dos picos pode ser devida à redistribuição de Cr ou Pt nos grãos de cristal e seus limites. Combinado com a análise do tamanho de grão da área rica em Co por largura de alargamento do pico de difração de raios X, que não foi muito consistente com o resultado obtido em outros estudos de TEM e AFM, a difusão de Cr foi sugerida como o fator governante na região de tempo de recozimento curto . O crescimento de grãos co-ricos também deve ser aplicado para explicar a variação das propriedades magnéticas em pós-recozimento mais longos.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E83-C No.9 pp.1473-1477
Data de publicação
2000/09/25
Publicitada
ISSN online
DOI
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Issue on Selected Papers from the 4th Asian Symposium for Information Storage Technology)
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