A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Small Protrusion Used as a Probe for Apertureless Scanning Near-Field Optical Microscopy Pequena saliência usada como sonda para microscopia óptica de campo próximo de varredura sem abertura

Noritaka YAMAMOTO, Takashi HIRAGA

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Resumo:

Demonstramos microscopia óptica de varredura de campo próximo sem abertura usando uma pequena saliência (uma simples partícula de poliestireno de 500 nm de diâmetro) em um substrato de vidro plano como sonda. Projetamos um pequeno estágio de amostra para operar com a sonda de partículas. É uma platina circular de 40 µm de diâmetro, fabricada a partir de uma fibra óptica por ataque com ácido fluorídrico (HF). Neste artigo, apresentamos o primeiro microscópio de força atômica e imagens de microscópio óptico de campo próximo obtidas com tal sonda. Também discutimos esquemas para controle de distância sonda-amostra nesta nova forma de microscopia óptica de campo próximo de varredura sem abertura.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E85-C No.12 pp.2104-2108
Data de publicação
2002/12/01
Publicitada
ISSN online
DOI
Tipo de Manuscrito
Special Section LETTER (Special Issue on Near-Field Optics and Its Applications)
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