A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Development of an Enterprise-Wide Yield Management System Using Critical Area Analysis for High-Product-Mix Semiconductor Manufacturing Desenvolvimento de um sistema de gerenciamento de rendimento para toda a empresa usando análise de áreas críticas para fabricação de semicondutores com alto mix de produtos

Yuichi HAMAMURA, Chizu MATSUMOTO, Yoshiyuki TSUNODA, Koji KAMODA, Yoshio IWATA, Kenji KANAMITSU, Daisuke FUJIKI, Fujihiko KOJIKA, Hiromi FUJITA, Yasuo NAKAGAWA, Shun'ichi KANEKO

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Resumo:

Para melhorar o rendimento do produto na fabricação de semicondutores com alto mix de produtos, é importante estimar o rendimento sistemático inerente a cada produto e extrair produtos problemáticos que tenham baixos rendimentos sistemáticos. Propomos um modelo de rendimento simplificado e disponível usando uma análise de área crítica. Este modelo permite a extração de produtos problemáticos pela relação entre os rendimentos reais e as sensibilidades curtas dos produtos. Além disso, apresentamos um sistema de gestão de rendimento para toda a empresa usando este modelo e algumas aplicações úteis. Como resultado, o sistema aumenta drasticamente a eficiência do gerenciamento e do aprimoramento do rendimento.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E92-C No.1 pp.144-152
Data de publicação
2009/01/01
Publicitada
ISSN online
1745-1353
DOI
10.1587/transele.E92.C.144
Tipo de Manuscrito
PAPER
Categoria
Materiais e dispositivos semicondutores

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Palavra-chave