A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Predicting Analog Circuit Performance Based on Importance of Uncertainties Previsão do desempenho do circuito analógico com base na importância das incertezas

Jin SUN, Kiran POTLURI, Janet M. WANG

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Resumo:

Com a redução dos dispositivos CMOS, a variação do processo está se tornando a principal causa de falhas em circuitos analógicos baseados em CMOS. Por exemplo, uma variação de apenas 5% no tamanho do recurso pode provocar falha no circuito. Vários métodos, como Monte-Carlo e verificação baseada em cantos, ajudam a prever a variação causada por problemas às custas de milhares de simulações antes de capturar o problema. Este artigo apresenta uma nova metodologia para previsão de desempenho de circuitos analógicos. O novo método aplica primeiro a análise estatística de incerteza em todos os dispositivos associados no circuito. Ao avaliar a importância da incerteza da variabilidade dos parâmetros, ele aproxima o circuito apenas com os componentes que são mais críticos para os resultados de saída. A aplicação da Aritmética Afim de Chebyshev (CAA) no sistema resultante fornece limites de desempenho e informações de probabilidade no domínio do tempo e no domínio da frequência.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E93-C No.6 pp.893-904
Data de publicação
2010/06/01
Publicitada
ISSN online
1745-1353
DOI
10.1587/transele.E93.C.893
Tipo de Manuscrito
PAPER
Categoria
Circuitos eletrônicos

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