A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Cost-Efficient Recycled FPGA Detection through Statistical Performance Characterization Framework Detecção econômica de FPGA reciclado por meio de estrutura de caracterização de desempenho estatístico

Foisal AHMED, Michihiro SHINTANI, Michiko INOUE

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Resumo:

A análise das degradações de atraso induzidas pelo envelhecimento de osciladores de anel (ROs) é uma maneira eficaz de detectar matrizes de portas programáveis ​​​​em campo (FPGAs) recicladas. No entanto, requer um grande número de medições de RO para todos os FPGAs antes do envio, o que aumenta os custos de medição. Propomos um método de detecção de FPGA reciclado econômico usando uma técnica estatística de caracterização de desempenho chamada sonda virtual (VP) baseada em detecção compactada. A técnica VP permite a previsão precisa da variação do processo espacial das frequências de RO em uma matriz usando um número muito pequeno de medições de RO de amostra. Usando a variação de frequência prevista como supervisor, o modelo de aprendizado de máquina classifica os FPGAs alvo como reciclados ou novos. Através de experimentos conduzidos utilizando 50 FPGAs comerciais, demonstramos que o método proposto atinge 90% de redução de custos para medições de RO, preservando a precisão da detecção. Além disso, um algoritmo de máquina de vetores de suporte de classe única foi usado para classificar FPGAs alvo com precisão de detecção de cerca de 94%.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E103-A No.9 pp.1045-1053
Data de publicação
2020/09/01
Publicitada
ISSN online
1745-1337
DOI
10.1587/transfun.2019KEP0014
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Section on Circuits and Systems)
Categoria

autores

Foisal AHMED
  Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
Michihiro SHINTANI
  Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
Michiko INOUE
  Nara Institute of Science and Technology (NAIST)

Palavra-chave