A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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A Fault Detection and Diagnosis Method for Via-Switch Crossbar in Non-Volatile FPGA Um método de detecção e diagnóstico de falhas para barra transversal via-switch em FPGA não volátil

Ryutaro DOI, Xu BAI, Toshitsugu SAKAMOTO, Masanori HASHIMOTO

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Resumo:

FPGA que explora via-switches, que são uma espécie de RAMs resistivas não voláteis, para implementação de crossbar está chamando a atenção devido à sua alta densidade de integração e eficiência energética. A crossbar via-switch é responsável pelo roteamento do sinal nas interconexões, alterando os estados ligado/desligado dos via-switches. Para verificar a funcionalidade da barra transversal via-switch após a fabricação, é essencial realizar testes de falha que verifiquem se podemos ligar/desligar os via-switches normalmente. Este artigo confirma que um comparador de par diferencial geral discrimina com sucesso os estados ligado/desligado de comutadores via e esclarece os modos de falha de um comutador via por simulação SPICE em nível de transistor que injeta falhas ligadas/desligadas presas no comutador atômico e no varistor, onde um via-switch consiste em dois interruptores atômicos e dois varistores. Propomos então uma metodologia de diagnóstico de falhas para chaves via na barra transversal que diagnostica os modos de falta de acordo com a diferença de resposta do comparador entre as chaves via normais e com falha. O método proposto atinge 100% de detecção de falhas, verificando as respostas do comparador após ligar/desligar o via-switch. Caso o número de componentes defeituosos em um via-switch seja um, a proporção do diagnóstico de falha, que identifica exatamente o varistor e a chave átomo defeituosa dentro do via-switch defeituoso, é de 100%, e no caso de até dois falhas, a taxa de diagnóstico de falhas é de 79%.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E103-A No.12 pp.1447-1455
Data de publicação
2020/12/01
Publicitada
ISSN online
1745-1337
DOI
10.1587/transfun.2020VLP0005
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Section on VLSI Design and CAD Algorithms)
Categoria

autores

Ryutaro DOI
  Osaka University
Xu BAI
  NEC Corporation
Toshitsugu SAKAMOTO
  NEC Corporation
Masanori HASHIMOTO
  Osaka University

Palavra-chave