A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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Practical Redundant-Via Insertion Method Considering Manufacturing Variability and Reliability Método prático de inserção via redundante, considerando a variabilidade e a confiabilidade da fabricação

Yuji TAKASHIMA, Kazuyuki OOYA, Atsushi KUROKAWA

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Resumo:

Como a tecnologia de circuito integrado passou por uma redução contínua para melhorar o desempenho do LSI e reduzir o tamanho do chip, o design para capacidade de fabricação (DFM) e o design para rendimento (DFY) tornaram-se muito importantes. Como um dos métodos DFM/DFY, uma técnica redundante via inserção usa tantas vias quanto possível para conectar os fios metálicos entre diferentes camadas. Neste artigo, nos concentramos em vias redundantes e propomos um método de inserção via redundante eficaz para uso prático para resolver as questões de variabilidade e confiabilidade de fabricação. Primeiramente, são mostrados os resultados da análise estatística para resistência via e via capacitância em alguns layouts físicos reais, e o impacto no atraso do circuito da variação da resistência das vias causada pela variabilidade de fabricação é esclarecido. Em seguida, as funções de avaliação de variação de atraso, eletromigração (EM) e migração de tensão (SM) são definidas e um método prático relativo à redundância via inserção é proposto. Resultados experimentais mostram que o LSI com vias redundantes inseridas pelo nosso método é robusto contra variabilidade de fabricação e problemas de confiabilidade.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E92-A No.12 pp.2962-2970
Data de publicação
2009/12/01
Publicitada
ISSN online
1745-1337
DOI
10.1587/transfun.E92.A.2962
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Section on VLSI Design and CAD Algorithms)
Categoria
Design de Nível Físico

autores

Palavra-chave