A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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On Fault Testing for Reversible Circuits No teste de falhas para circuitos reversíveis

Satoshi TAYU, Shigeru ITO, Shuichi UENO

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Resumo:

Sabe-se que o teste de circuitos reversíveis é relativamente mais fácil do que os circuitos irreversíveis convencionais, no sentido de que poucos vetores de teste são necessários para cobrir todas as faltas bloqueadas. Este artigo mostra, no entanto, que é NP-difícil gerar um conjunto de testes mínimo completo para faltas presas nos fios de um circuito reversível usando uma redução de tempo polinomial de 3SAT para o problema. Também mostramos limites inferiores não triviais para o tamanho de um conjunto de testes mínimo completo.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E91-D No.12 pp.2770-2775
Data de publicação
2008/12/01
Publicitada
ISSN online
1745-1361
DOI
10.1093/ietisy/e91-d.12.2770
Tipo de Manuscrito
PAPER
Categoria
Teoria da Complexidade

autores

Palavra-chave