A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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On the Diagnosis of Two-Dimensional Grid of Processors Sobre o Diagnóstico da Grade Bidimensional de Processadores

Jun ZHAO, Fred J. MEYER, Nohpill PARK, Fabrizio LOMBARDI

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Resumo:

Examinamos o diagnóstico de sistemas de matrizes de processadores formados como grades bidimensionais, com limites e quatro ou oito vizinhos para cada processador interno. Empregamos um cronograma de testes paralelo. Os processadores vizinhos testam uns aos outros e relatam os resultados. Nosso objetivo de diagnóstico é encontrar um processador ou conjunto de processadores sem falhas. O sistema pode então ser diagnosticado sequencialmente reparando os processadores testados com defeito de acordo com o conjunto livre de falhas identificado. Estabelecemos um limite superior para o número máximo de falhas que podem ser sustentadas sem invalidar os resultados do teste nas piores condições. Fornecemos cronogramas de teste e algoritmos de diagnóstico que atendem ao limite superior até o termo de ordem mais alta. Comparamos esses algoritmos de diagnóstico quase ideais com algoritmos alternativos - ambos novos e já existentes na literatura.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E84-D No.11 pp.1486-1499
Data de publicação
2001/11/01
Publicitada
ISSN online
DOI
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Issue on Function Integrated Information Systems)
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