A funcionalidade de pesquisa está em construção.
A funcionalidade de pesquisa está em construção.

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
Copyrights notice

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. Copyrights notice

Analysis and Testing of Analog and Mixed-Signal Circuits by an Operation-Region Model Análise e Teste de Circuitos Analógicos e de Sinais Mistos por um Modelo de Região de Operação

Yukiya MIURA

  • Exibições de texto completo

    0

  • Cite isto

Resumo:

Este artigo propõe um modelo de região de operação para análise e teste de circuitos analógicos e de sinais mistos, que se baseia na observação de mudanças nas regiões de operação do MOSFET. Primeiro, é investigada a relação entre a mudança nas regiões de operação do MOSFET e o comportamento da falta de um circuito de sinais mistos contendo uma falta em ponte. A seguir, propomos um procedimento de análise baseado no modelo de região de operação e o aplicamos para gerar a combinação ótima de entradas para testar o circuito. Também determinamos quais transistores devem ser observados para estimar o comportamento do circuito. Como o modelo da região de operação é um método para modelar o comportamento do circuito de forma abstrata, o método proposto será útil para modelar o comportamento do circuito e para analisar e testar muitos tipos de circuitos analógicos e de sinais mistos.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E85-D No.10 pp.1551-1557
Data de publicação
2002/10/01
Publicitada
ISSN online
DOI
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Issue on Test and Verification of VLSI)
Categoria
Teste de sinal analógico/misto

autores

Palavra-chave