A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST Inserção de ponto de controle FF (FF-CPI) para superar a degradação da detecção de falhas em teste multiciclo para POST

Hanan T. Al-AWADHI, Tomoki AONO, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI, Hiroyuki IWATA, Yoichi MAEDA, Jun MATSUSHIMA

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Resumo:

O teste multiciclo parece uma maneira promissora de reduzir o tempo de aplicação de teste do POST (Power-on Self-Test) para alcançar uma alta cobertura de falhas especificada pela ISO26262 para testar dispositivos automotivos. Neste artigo, primeiro analisamos o mecanismo do problema de degradação da detecção de falhas presas em testes multiciclos. Com base no resultado de nossa análise, propomos uma nova solução denominada técnica de inserção de pontos de controle FF (FF-CPI) para alcançar a redução de padrões de varredura por teste multiciclo. A técnica FF-CPI modifica os valores capturados dos flip-flops de varredura (FFs) durante a operação de captura, revertendo diretamente o valor dos FFs parciais ou carregando vetores aleatórios. A técnica FF-CPI aumenta o número de falhas detectáveis ​​sob os padrões de captura. Os resultados experimentais dos benchmarks ISCAS89 e ITC99 validaram a eficácia da técnica FF-CPI na redução do padrão de varredura para POST.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E103-D No.11 pp.2289-2301
Data de publicação
2020/11/01
Publicitada
2020/08/20
ISSN online
1745-1361
DOI
10.1587/transinf.2019EDP7235
Tipo de Manuscrito
PAPER
Categoria
Computação confiável

autores

Hanan T. Al-AWADHI
  Ehime University
Tomoki AONO
  Ehime University
Senling WANG
  Ehime University
Yoshinobu HIGAMI
  Ehime University
Hiroshi TAKAHASHI
  Ehime University
Hiroyuki IWATA
  Renesas Electronics Corporation
Yoichi MAEDA
  Renesas Electronics Corporation
Jun MATSUSHIMA
  Renesas Electronics Corporation

Palavra-chave