A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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On the Efficacy of Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption Sobre a eficácia do agrupamento de cadeias de varredura para mitigar a corrupção de dados de teste induzida por queda de IR

Yucong ZHANG, Stefan HOLST, Xiaoqing WEN, Kohei MIYASE, Seiji KAJIHARA, Jun QIAN

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Resumo:

Carregar vetores de teste e descarregar respostas de teste no modo shift durante o teste de varredura faz com que muitos flip-flops de varredura comutem simultaneamente. A atividade de mudança de turno resultante em torno dos flip-flops de varredura pode causar queda excessiva de IR local que pode alterar os estados de alguns flip-flops de varredura, levando à corrupção dos dados de teste. Uma abordagem comum para resolver esse problema é o deslocamento parcial, no qual múltiplas cadeias de varredura são formadas e apenas um grupo de cadeias de varredura é deslocado por vez. No entanto, os métodos anteriores baseados nesta abordagem usam agrupamento aleatório, o que pode reduzir a atividade de mudança de turno global, mas pode não ser otimizado para reduzir a atividade de mudança de turno local, resultando em alto risco remanescente de corrupção de dados de teste, mesmo quando a mudança parcial é aplicada. Este artigo propõe novos algoritmos (um ideal e um heurístico) para agrupar cadeias de varredura, com foco na redução da atividade de comutação de turno local em torno dos flip-flops de varredura, reduzindo assim o risco de corrupção de dados de teste. Os resultados experimentais em todos os grandes circuitos de benchmark ITC'99 demonstram a eficácia dos algoritmos heurísticos e ótimos propostos, bem como a escalabilidade do algoritmo heurístico.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E104-D No.6 pp.816-827
Data de publicação
2021/06/01
Publicitada
2021/03/08
ISSN online
1745-1361
DOI
10.1587/transinf.2020EDP7042
Tipo de Manuscrito
PAPER
Categoria
Computação confiável

autores

Yucong ZHANG
  Kyushu Institute of Technology
Stefan HOLST
  Kyushu Institute of Technology
Xiaoqing WEN
  Kyushu Institute of Technology
Kohei MIYASE
  Kyushu Institute of Technology
Seiji KAJIHARA
  Kyushu Institute of Technology
Jun QIAN
  Advanced Micro Devices, Inc.

Palavra-chave