A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme Alta redução da atividade de comutação de inicialização em testes de varredura em velocidade usando CTX: um esquema de relaxamento de teste baseado em clock e preenchimento de X

Kohei MIYASE, Xiaoqing WEN, Hiroshi FURUKAWA, Yuta YAMATO, Seiji KAJIHARA, Patrick GIRARD, Laung-Terng WANG, Mohammad TEHRANIPOOR

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Resumo:

O teste de varredura em velocidade é suscetível ao risco de perda de rendimento devido ao ruído da fonte de alimentação causado pela atividade excessiva de comutação de lançamento. Este artigo propõe um novo esquema de dois estágios, nomeadamente CTX (Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling), para reduzir a atividade de comutação quando um estímulo de teste é lançado. O relaxamento de teste e o preenchimento X são conduzidos (1) para tornar inativos tantos FFs quanto possível, desativando os sinais de controle de clock correspondentes do circuito de ativação de clock no Estágio 1 (desativação de clock) e (2) para equalizar a entrada e saída valores no Estágio 2 de tantos FFs ativos restantes quanto possível (FF-Silenciamento). O CTX reduz efetivamente a atividade de comutação de lançamento e, portanto, gera risco de perda mesmo quando apenas um pequeno número de bits irrelevantes (X) estão presentes (como na compactação de teste) sem qualquer impacto no volume de dados de teste, cobertura de falhas, desempenho ou projeto de circuito .

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E93-D No.1 pp.2-9
Data de publicação
2010/01/01
Publicitada
ISSN online
1745-1361
DOI
10.1587/transinf.E93.D.2
Tipo de Manuscrito
Special Section PAPER (Special Section on Test, Diagnosis and Verification of SOCs)
Categoria

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Palavra-chave