A funcionalidade de pesquisa está em construção.
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A Practical Threshold Test Generation for Error Tolerant Application Uma geração prática de teste de limite para aplicação tolerante a erros

Hideyuki ICHIHARA, Kenta SUTOH, Yuki YOSHIKAWA, Tomoo INOUE

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Resumo:

O teste de limite, que é um método de teste de LSI baseado na aceitabilidade de falhas, é eficaz no aumento do rendimento de LSIs e no endurecimento seletivo para sistemas LSI. Neste artigo, propomos modelos de geração de testes para geração de testes de limite. Utilizando os modelos propostos, podemos identificar eficientemente falhas aceitáveis ​​e gerar padrões de teste para falhas inaceitáveis ​​com um algoritmo geral de geração de testes, ou seja, sem um algoritmo de geração de testes especializado para testes de limiar. Os resultados experimentais mostram que a nossa abordagem é, na prática, eficaz.

Publicação
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E93-D No.10 pp.2776-2782
Data de publicação
2010/10/01
Publicitada
ISSN online
1745-1361
DOI
10.1587/transinf.E93.D.2776
Tipo de Manuscrito
PAPER
Categoria
Rede de Informação

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